ANORGANICKÉ MATERIÁLY

POPIS

• Rentgenový fotoelektronový spektrometr s AlKα monochromatickým zdrojem
• Možnost 2D paralelního zobrazovacího modu pro chemické mapování povrchů s rozlišením <3 μm
• Možnost nastavení proměnné velikosti spotu již od 15 μm
• Možnost hloubkového profilování vzorků pomocí iontového děla
• Plně automatický manipulátor vzorku umožňující pohyb v pěti osách
• Automatický kompenzátor náboje

VYUŽITÍ

• Kvalitativní a kvantitativní prvková analýza horních 10 nm povrchu materiálu
• Vysoká citlivost umožňující stanovit všechny prvky (kromě H a He) o koncentracích > 0,1 at. %
• Stanovení chemického i elektronového stavu každého prvku
• Stanovení empirických vzorců čistých látek
• Možnost detekce kontaminace povrchu
• Destruktivní prvkové profilování vzorků do hloubky několik stovek nanometrů při využití iontového odprašování
• Nedestruktivní prvkový profil do hloubky 10 nm
• Obory využívající XPS: silikátová chemie, keramika, koroze, elektronika, metalurgie, biotechnologie, katalýza, technologie polymerů, geologie

ROK INSTALACE

• 2012

POPIS

• Energodisperzní rentgenový spektrometr
• Sekundární polarizační filtry
• Sekundární terčíky pro citlivější analýzu
• SDD detektor s rozlišením 136 eV na 5,9 keV
• Bezstandardní analýza (FP)

VYUŽITÍ

• Prvková kvalitativní a kvantitativní analýza v rozsahu F až U
• Analýza pevných látek, prášků, gelů i kapalin
• Citlivost měření je v řádu jednotek ppm

ROK INSTALACE

• 2010

POPIS

• Jedná se o unikátní multifunkční mikroskop s velmi širokými možnostmi, sloužící k pozorování struktury materiálů (jak kapalných, tak pevných) a tvorbě jejich chemických map. Díky samostatnému kanálu s optimalizovaným detektorem je možnost snímání a tvorby map povrchů ve 2D a 3D zobrazení pomocí Laserové konfokální reflexní mikroskopie.
• Mikroskop nabízí velmi vysoké prostorové rozlišení (200 nm laterární a 500 nm v ose Z) i spektrální, vzhledem k zabudované Echelle mřížce. Jsme schopni měřit nejen Ramanský roptyl, ale i luminiscenci v plně konfokálním režimu. Laserovou konfokální reflexní mikroskopií jsme schopni rychle získat 3D obrázek povrchu a následně korelovat s 3D obrázky naměřených Ramanských či luminiscenčních spekter a tvořit zmíněné chemické mapy.
• Systém je opatřený taktéž mikroskopickým zahřívacím stolkem Linkam pro ohřev od pokojové teploty do 1500 °C pro pozorování struktury materiálů při teplotní zátěži

STĚŽEJNÍ PARAMETRY

• 3D Ramanova i luminiscenční mikroskopie + Simultánní záznam 3D laserová mikroskopie.
• Unikátní prostorové rozlišení lepší jak 200 nm v ose x, y a 500 nm v ose z.
• Rychlý optický sken map až do 4000 × 4000 bodů.
• Mechanické skenování velkých vzorků.
• Pozorování struktury při teplotní zátěži do 1500 °C.

PŘÍSTROJ

• Nanofinder S, společnost Solar TII

VYUŽITÍ

• Pozorování kapalných i pevných vzorků
• Chemická analýza
• Identifikace plynných produktů termického rozkladu organických i anorganických látek

VÝČET PRŮMYSLOVÝCH OBORŮ, KAM JE ZPRAVIDLA NABÍDKA SMĚROVÁNA

• Průmyslová výroba i výzkum anorganických i organických materiálů.

Kontakty na dojednání spolupráce

• ING. EVA BARTONÍČKOVÁ, PH.D.
• Tato e-mailová adresa je chráněna před spamboty. Pro její zobrazení musíte mít povolen Javascript., +420 54114 9366

POPIS

• Invertovaný světelný mikroskop pro pozorování v odraženém a procházejícím světle
• Planapochromatické objektivy 5x – 100x vč. imerzního objektivu
• Plně automatický systém stolku a optiky
• Modul pro korelativní mikroskopii (propojení se SEM)

VYUŽITÍ

• Pozorování pevných vzorků, prášků a kapalin v odraženém i procházejícím světle
• Zvětšení 50x – 2500x
• Umožňuje nasnímání vzorku a následné plně automatické nasnímání stejných míst v elektronovém mikroskopu

ROK INSTALACE

• 2011

POPIS

• Modul - vysokoteplotní dilatometr
• Modul - termomechanická analýza
• Modul - diferenční termická analýzaM
• Modul - termogravimetrická analýza
• Modul - diferenční skenovací kalorimetrie
• Měření až do teploty 2 400 °C
• Možnost řízené atmosféry a vlhkosti

VYUŽITÍ

• Studium chemických, fázových, objemových a mechanických změn materiálů do teploty 2 400 °C.

ROK INSTALACE

• 2010

POPIS

• Měření až do teploty 1500 °C rychlostí 0,1 – 100 °C/min
• Max. navážka vzorku 200 mg
• Měření pod různými atmosférami (vzduch, argon, kyslík)
• Měření uvolněných plynů během analýzy pomocí FT-IR spektrometru

VYUŽITÍ

• Studium chemických, fázových a hmotnostních změn materiálů během zahřívání až do 1 500 °C
• Identifikace uvolněných plynů během zahřívání

ROK INSTALACE

• 2008

POPIS

• Modul pro pevnost v tlaku a tahu za ohybu vzorků 20×20×100, 40×40×160 a 100×100×700 mm.
• Max. tlaková síla 300 kN (cementové pasty) a 3000 kN (betonové výrobky).
• Max. ohybová síla 10 (cementové pasty) a 100 kN.
• Modul pro stanovení modulu pružnosti.

VYUŽITÍ

• Stanovení pevnosti v tlaku a tahu za ohybu cementových, betonových a jiných materiálů
• Stanovení modulu pružnosti a deformace

ROK INSTALACE

• 2010

POPIS

• Měření velikosti částic práškových vzorků pomocí laserové difrakce.
• Dispergace vzorku suchým i mokrým způsobem.
• Měření na třech objektivech s různými rozlišovacími možnostmi pro přesnější prezentaci výsledků.
• Přehledný a variabilní software pro vyhodnocení výsledků.
• Krátká doba měření.
• Možnost využití organických či jiných rozpouštědel při měření morkým způsobem.

VYUŽITÍ

• Měření velikosti částic práškových vzorků v rozmezí od 0,1 do 1 850 µm.
• Možnost měření a srovnání výsledků suchého a mokrého způsobu měření.
• Široké možnosti prezentace výsledků podle přání zákazníka (diferenciální a integrální distribuční funkce, D50, zastoupení částic v libovolných velikostních intervalech, zbytek na „sítech“, …

ROK INSTALACE

• 2011

POPIS

• Fotonový analyzátor velikosti částic pomocí křížové korelace dvou laserových paprsků
• Vhodný pro měření velikosti částic koloidních vzorků v rozmezí 1 nm až 1 µm
• Není zapotřebí vzorek před měřením ředit
• Minimální objem vzorku 1 ml

VYUŽITÍ

• Měření velikosti částic již od 1 nm.
• Měření stability koloidních, emulzních a suspenzních systémů.

ROK INSTALACE

• 2011